利扬芯片:公司完成全球第一颗3nm芯片测试开发将向量产测试阶段有序推进
来源:东方财富
时间: 2022-07-08 15:04
阅读量:4643
阳芯片7月8日在互动平台表示,最近几年来公司在高端芯片领域不断加大测试和R&D的投入特别是公司的计算芯片测试技术,针对先进制造工艺的离散问题提供了一整套测试解决方案,重点解决功耗比,芯片内阻,大电流测试电路,测试温度控制等关键技术难点前期已为多家客户提供8nm和5nm芯片产品的量产测试服务目前,3nm先进工艺技术的芯片测试方案已调试成功,标志着公司已完成全球首款3nm芯片的测试研发,将有序推进到量产测试阶段
声明:以上内容为本网站转自其它媒体,相关信息仅为传递更多企业信息之目的,不代表本网观点,亦不代表本网站赞同其观点或证实其内容的真实性。投资有风险,需谨慎。
推荐阅读
2022-07-08 15:04
2022-07-08 15:04
2022-07-08 15:04
2022-07-08 15:04
2022-07-08 15:04
2022-07-08 15:04
2022-07-08 15:04
2022-07-08 15:04